テストハイト0.5mm/スーパーショートプローブ(開発品)
製品概要
当社ではmmWave帯域のデバイステストをより安価に実現するため高価な同軸構造プローブの代替えとしてスーパーショートプローブ製品群を提供してきました。
テストハイト0.7mm/テストハイト0.9mmなどの製品を出荷中(下図)でmmWave領域でのデバイステスト及び評価にご好評を頂いております。
今回ご紹介するプローブはさらなる短尺化を極め
テストハイト:0.5mm
端子ピッチ :>0.35mm
使用帯域 :<60GHz
上記でご使用いただけるスーパーショートプローブ(右写真)となります。
当社のプローブ開発技術、最先端切削技術、組立て技術の成果です。
テストハイト0.7mm/テストハイト0.9mmなどの製品を出荷中(下図)でmmWave領域でのデバイステスト及び評価にご好評を頂いております。
今回ご紹介するプローブはさらなる短尺化を極め
テストハイト:0.5mm
端子ピッチ :>0.35mm
使用帯域 :<60GHz
上記でご使用いただけるスーパーショートプローブ(右写真)となります。
当社のプローブ開発技術、最先端切削技術、組立て技術の成果です。
特長
・mmWaveデバイスの検査/評価
→高価な同軸構造を使用せずmmWaveデバイステストを安価に実現
・小型化、挟ピッチ化の進むパッシブデバイステストに最適
→BPF、高周波スイッチ等
・PCRシート等の代替え
→耐久回数の2~3桁向上
→広い動作温度範囲
→高周波評価の安定性/再現性向上
→高価な同軸構造を使用せずmmWaveデバイステストを安価に実現
・小型化、挟ピッチ化の進むパッシブデバイステストに最適
→BPF、高周波スイッチ等
・PCRシート等の代替え
→耐久回数の2~3桁向上
→広い動作温度範囲
→高周波評価の安定性/再現性向上