WLCSP用プローブカード・ソケット
製品概要
コンタクトにスプリングプローブを採用したWLCSP用の垂直型プローブカードとなります。半田バンプ/ボール端子に最適なプローブ先端形状、材質を選択可能であり、量産テスト工程で300万回の高耐久性を実現しております。ファインピッチプローブを使用する事で150μm以下の狭ピッチや半田ボールへのケルビン測定にも対応可能です。多数個のデバイスをマルチ測定することが可能でありテストのタクトタイム短縮に貢献します。またデバッグ用のWLCSP個片測定用ユニットを合わせて使用可能です。
特長
- スプリングプローブを採用した垂直型プローブカード
- 半田バンプ/ボールに最適なクラウン形状、Pd合金材、その他特殊コーティングを選択可能
- 150μm以下の狭ピッチや半田ボールへのケルビン測定にも対応可能
プローブベッド部
WLCSP用プローブカード
WLCSP個片測定用ユニット製品例