Semiconductor test 自社製造のスプリングプローブ技術を用いて半導体テストソリューションを提供しております。量産でのウェハテスト、ファイナルテストおよびシステムレベルテストに対応したテストアプリケーションやハイレベルなコンタクト技術を提案します。 LSI高周波テスト ミリ波同軸構造ソケット マルチインピーダンスソケット 高周波信号のユニット間接続用途 ミリ波同軸ケーブルコネクタ ミリ波インターポーザ ARDENT社 Terminate-R バーインテスト Sullins社 高温対応カードエッジコネクタ Sullins社 高温対応フラットケーブルコネクタ 水晶・MEMSデバイス用ソケット プローブカード WLCSP用プローブカード・ソケット ソケットアプリケーション BGA/LGA用ソケット イメージセンサー用ソケット FPGAソケット 波形観測用ソケット 水晶・MEMSデバイス用ソケット 製品基板用ソケット（YOROI）
